統計的なゆらぎ

macroscopic fluctuation/statistical fluctuation
微細な大規模ICにおいて、不規則に発生する素子特性のばらつき（ゆらぎ）。微細化の進展によって、従来は無視できたような製造上の加工ばらつき（素子形状や不純物分布など）が、先端デバイスでは素子特性に影響するなど、問題として顕在化してきている。