テスト容易化設計（DFT）

design for testability
大規模な論理回路に対し、故障検出率向上と試験時間短縮のため、IC内にテストを行う仕掛けを組み入れた技術。スキャンパス方式（すべてのフリップフロップをシフトレジスタとして動作させられるように回路を追加し直列接続したもの）、論理BISTなどがある。