Iddq

Idd quiescent
CMOS回路の製造工程で発生した欠陥を検出する手法。理想的なCMOS回路は、静止時に電源電流（Idd）がわずかしか流れないという性質を利用した手法で、IC内部の論理を切り替えながらリーク電流を測定し、故障検出を行なう。
ただし、比較的テストに時間がかかる可能性があるという欠点がある。