JTAG

Joint Test Action Group
JTAGテスト規格。デバイスの全ての外部入出力ピンを順次走査してテストデータの入出力を行い、デバイスの内部やプリント回路基板の動作を試験する。デバイスごとに、入出力端子やテスト用制御回路を設ける必要があり、その規格を規定している。1990年にIEEE1149.1として標準化されている。