スキャンテスト

SCAN test
大規模な論理IC で必携となっているテスト手法の一つ。検査する回路の経路上にフリップフロップを組み込み、ピン（端子）から順次走査（スキャン）しながら動作を観測することで、回路の短絡・開放・架橋・遅延などを自動的に調べることができる。